Метод основан на контролируемом царапании индентором на выбранном участке  образца/изделия. Наконечник индентора (обычно алмаз или сапфир, карбид вольфрама по выбору) перемещается по поверхности образца с постоянной, возрастающей или прогрессивной нагрузкой. При определенной критической нагрузке покрытие начнет разрушаться. Критические нагрузки можно определить по нескольким независимо регистрируемым сигналам: силе трения, глубине погружения индентора, акустической эмиссии , а также при последующем оптическом анализе царапины посредством встроенного оптического микроскопа.